CUSUM·EWMA 관리도 계산기 쉽게 이해하기 — 개념과 원리
지수가중이동평균(EWMA) 관리도와 누적합(CUSUM) 관리도는 공정 평균에 생긴 작지만 지속적인 변화를 잡아내는 통계적 공정 관리 도구로, 일반 슈하트 관리도로는 늦게 발견되는 작은 이동을 빨리 감지합니다. 이 계산기는 입력한 관측값으로 두 관리도를 계산해 이탈 신호를 알려 줍니다.
계산 방법
- EWMA 통계량: zᵢ = λxᵢ + (1 − λ)zᵢ₋₁, 시작값 z₀ = μ₀(목표 평균)
- 점근 관리 한계: μ₀ ± L σ √(λ / (2 − λ))
- 판정: |z_마지막 − μ₀|가 L σ √(λ / (2 − λ))보다 크면 관리 이탈입니다.
- 표 형식 CUSUM: C⁺ᵢ = max(0, xᵢ − (μ₀ + k) + C⁺ᵢ₋₁), C⁻ᵢ = max(0, (μ₀ − k) − xᵢ + C⁻ᵢ₋₁)이며 k = 0.5σ, 어느 한쪽이 h = 5σ를 넘으면 신호입니다.
λ(0~1)는 최신 관측값에 주는 가중치, σ는 개별 관측값의 알려진 공정 표준편차, L은 한계 폭을 표준편차 단위로 정하는 값입니다.
원리
점화식을 풀어 쓰면 zᵢ는 과거 모든 자료의 가중평균이며, 가중치는 λ, λ(1 − λ), λ(1 − λ)², …로 기하급수적으로 줄어듭니다. 오래된 값은 희미해지지만 사라지지 않아, 작은 이동이 계속되면 z에 차곡차곡 쌓이고 우연 변동은 평균되어 상쇄됩니다. zᵢ의 분산은 σ² (λ/(2 − λ)) [1 − (1 − λ)²ⁱ]이고 몇 점만 지나면 σ² λ/(2 − λ)로 수렴하는데, 한계 폭이 여기서 나옵니다.
예제 풀이
- 입력값: x = 10.1, 10.0, 10.2, 10.3, 10.4, 10.5, μ₀ = 10, σ = 0.2, λ = 0.2, L = 3입니다.
- z₁ = 0.2 × 10.1 + 0.8 × 10 = 10.02, z₂ = 10.016, z₃ = 10.0528, z₄ = 10.10224, z₅ = 10.161792입니다.
- z₆ = 0.2 × 10.5 + 0.8 × 10.161792 = 10.2294336입니다.
- 한계 반폭: 3 × 0.2 × √(0.2 / 1.8) = 0.2이므로 관리 한계는 9.8 – 10.2입니다.
- 10.2294가 10.2보다 크므로 관리 이탈(out of control)입니다.
- CUSUM(k = 0.1, h = 1.0): C⁺ = 0, 0, 0.1, 0.3, 0.6, 1, C⁻는 계속 0이며, 여섯 번째 점에서 C⁺가 h에 이르러 signal at obs. 6이 나옵니다.
어떤 관측값도 목표에서 2.5σ를 넘지 않았지만, 두 관리도 모두 꾸준한 상승 추세를 여섯 번째 점에서 잡아냈습니다.
| 목표 평균 | 마지막 EWMA |
|---|---|
| 2.5 | 8.2633536 |
| 5 | 8.9187136 |
| 7.5 | 9.5740736 |
| 10 | 10.2294336 |
| 12.5 | 10.8847936 |
| 15 | 11.5401536 |
| 20 | 12.8508736 |
결과 해석
'관리 상태'는 마지막 EWMA가 한계 안에 있다는 뜻일 뿐, 공정이 목표에 정확히 맞는다는 뜻은 아닙니다. 신호가 나오면 EWMA가 조금 늦게 반응하므로 몇 점 앞에서 시작된 이상 원인을 찾습니다. 흔히 λ는 0.05~0.25, L은 3 안팎을 씁니다.
흔한 실수
- 이미 이동이 섞인 자료로 σ를 추정해 한계가 넓어지고 문제가 가려지는 경우.
- 개별값을 넣으면서 부분군 평균의 σ를 쓰거나 그 반대로 쓰는 경우.
자주 묻는 질문
λ는 어떻게 정하나요?
작은 이동을 잡으려면 λ를 작게 합니다. Lucas와 Saccucci의 평균 런 길이(ARL) 표를 보면 원하는 이동 크기와 오경보율에 맞는 λ와 L을 고를 수 있습니다.
출처: S. W. Roberts (1959), Control chart tests based on geometric moving averages, Technometrics 1(3) · J. M. Lucas and M. S. Saccucci (1990), Exponentially weighted moving average control schemes: properties and enhancements, Technometrics 32(1)